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Joule Yacht 薄膜热导率测试系统 TCT-HT
/Bi2Te3超晶格热导率的变化膜热导率测试系统技术参数型号TCT-HT温度范围RT-500K测试对象半导体薄膜、导电薄膜、绝缘薄膜等热导率测量范围0.1-10W/(m·K)(可扩展至2000W/(m
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Joule Yacht 薄膜热导率测试系统 TCT-RT
薄膜热导率测试系统产品特点 ● 不直接测量温度变化,而是通过测量材料在导热过程中温度的变化转换为的电信号的变化来实现微/纳米薄膜材料的热导率,微伏级电压值,保证测量结果的高精确度
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纳米薄膜热导率测试系统-TCN-2ω
日本Advance Riko公司推出的纳米薄膜热导率测试系统-TCN-2ω是唯一使用2ω方法测量纳米薄膜厚度方向热导率的商用系统。与其他方法相比,样品制备和测量极为简单。
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Joule Yacht 薄膜热电参数测试系统 MRS
薄膜热电参数测试系统产品特点 ● 专门针对薄膜材料的Seebeck系数和电阻率测量。 ● 测试环境温度范围达到81K~700K。 ● 采用动态法测量Seebeck系数,避免了静态
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Joule Yacht 薄膜变温电阻测试仪 TRT
薄膜变温电阻测试仪采用双电法测量高温、真空、气氛条件下的电阻和电阻率,可以用来分析样品的电阻率随温度变化曲线、电阻温阻系数、样品相变温度点。其广泛用于光电、铁电、热电等各种导电材料的电阻率测量
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Joule Yacht 霍尔效应测试系统 HET
霍尔效应测试系统依据范德堡法则测量材料的电运输性能参数:载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等,薄膜或薄层材料均可测量,可应用于所有半导体材料,包括Si、ZnO、SiGe、SiC,GaAs
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Joule Yacht 热电参数测试系统 Namicro-3LT
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Joule Yacht 薄膜热导率测试系统 TCT-HT
热导率的变化不同温度下,GeTe/Bi2Te3超晶格热导率的变化膜热导率测试系统技术参数型号TCT-HT温度范围RT-500K测试对象半导体薄膜、导电薄膜、绝缘薄膜等热导率测量范围0.1-10W/(m
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昊量光电面内热导率测试系统 AU-TRSD103
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Joule Yacht 光功率热分析仪 OPA
(融化、软化、晶化等)的实时测定 ● 新型材料(相变材料、相变储能材料)的稳定性测试及性能优化 ● 强诱导体薄膜的结晶化退火 ● 注入离子后的扩散退火 ● 半导体材料的烧成与
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